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      四探針方電阻率測試儀運用領域

      2022-06-16 11:21:36  來源：ROOKO
      四探針方電阻率測試儀運用領域
      四探針電阻率測試儀常用于半導體行業，這種實驗方法在國外備受青睞，在我國也成為一種測試趨勢。它具有測試快速、簡單操作，準確度高的特點，*主要這種方法不用校準，不需要測試人員耗費大量的時間和精力去論證測試的準確性。
      四探針方電阻率測試儀運用領域
      規格型號 FT-341
      1.方塊電阻 10^-5～2×10^5Ω/□
      2.電阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm
      3.測試電流 0.1μA.1μA.10μA，100A，1mA，10mA，100mA
      4.電流精度 ±0.1%
      5.電阻精度 ≤0.3%
      6.顯示讀數 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
      7.測試方式 雙電測量
      8.電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
      9.誤差 ≤3%（標準樣片結果）
      10.選購功能 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻.
      11.測試探頭 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
      12.標準電阻（選購） 規格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ
       
      雙電組合測試方法：
      利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，適用于斜置式四探針對于微區的測試。
      適用于覆蓋膜      ;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
      2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，

       

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